干涉測量具有極高的精度,在光學測量中占有重要的地位，它以光波長作為測量尺度和測量基準，在光學材料特性參數測試、光學薄膜厚度測試、光學元件特征參數測量、光學系統成像質量檢驗、精密測量、精密加工等方面有廣泛的應用。

項目提出了一種新型干涉測量法，可測量球形表面（例如透鏡） 的物理參數，獲得曲率半徑、頂點位置等信息。其機理是利用現代信號處理和機器學習分析球形表面干涉測量所形成的牛頓環干涉條紋， 從條紋中提取物理信息。

該干涉測量法區別于時間相移干涉儀，無需壓電陶瓷（PZT）產生多個相移幀圖進行處理。也區別于其它動態干涉儀，無需多臺相機或相位掩膜產生多幀圖或空間載波技術來完成測量。該干涉測量法可直接對單幅無載波的牛頓環干涉條紋進行分析，無需額外硬件裝置即可完成高精度動態測量，獲取球形表面的曲率半徑等物理參數。解決當前干涉測量方法對圖像需求量大、成像要求高、硬件成本高的問題， 同時又具備很好的抗干擾能力，特別是遮擋、灰塵、鏡面刮擦、噪聲等干擾情況。